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3. Diffusion

3. Diffusion

1. Diffusion

  • 입자 농도(화학적 포텐셜)의 기울기(Gradient)\\ + 열에너지, Scattering에 의한 Random Motion에 의해 발생
    • Random Motion : 고농도 / 저농도측 모두 입자가 랜덤한 양으로 이동\\경계를 통과하는 입자수는 고농도측 입자가 더 많음\\결과적으로 시간이 지나면 두 영역이 평형 상태가 됨
  • 높은 농도에서 낮은 농도로 입자가 이동(재분배)
  • 평형 상태가 될 때까지 이동
    • 반도체의 경우 Charged Particle에 의해 Diffusion이 끝나도 같은 농도가 아닐 수 있음

2. Diffusion Current

  • Diffusion에 의한 입자 흐름
    • F=Dη\mathcal{F}=-D\nabla\eta
    • diffusion flux = -(diffusion Coefficient)×Grad(Concentration)
    • η\nabla\eta가 ( - ) : diffusion은 농도가 감소하는 쪽으로 발생
  • 전자 diffusion current density : JNdiff=qDNnJ_{Ndiff}=qD_N\nabla n
    • 전자 diffusion은 농도가 낮은 쪽으로 이동
    • 전자와 전류의 방향은 반대이므로 JNdiffJ_{Ndiff}는 ( + )
  • 정공 diffusion current density : JPdiff=qDPpJ_{Pdiff}=-qD_P\nabla p
    • hole diffusion은 농도가 낮은 쪽으로 이동
    • hole diffusion과 current 같은 방향이므로 JPdiffJ_{Pdiff}는 ( - )

  • Total Current = Drift + Diffusion
    • hole : JP=JPdrift+JPdiff=qpμpEqDPpJ_P=J_{Pdrift}+J_{Pdiff}=qp\mu_pE-qD_P\nabla p
    • electron : JN=JNdrift+JNdiff=qnμnE+qDNnJ_N=J_{Ndrift}+J_{Ndiff}=qn\mu_nE+qD_N\nabla n
    • J=JP+JNJ=J_P+J_N
  • Drift Current는 전기적 포텐셜에 영향을 많이 받아 Majority Carrier의 영향을 크게 받지만\\Diffusion Current는 농도차의 영향을 받으므로 Major 뿐 아니라 Minority Carrier의 영향 역시 유의미하게 존재한다.

  • Built-in Electric Field
    • 캐리어 농도가 불균일한 상태로 평형 상태가 되도록 하는 힘
    • JN=JP=0J_N=J_P=0일 때 equilitbrium
    • equilibrium일 때 전류밀도의 식을 이용하면
      • electric field E=Dppμpp=DnnμnnE=\frac{D_p\nabla p}{\mu_pp}=-\frac{D_n\nabla n}{\mu_nn}
      • equilibrium 상태여도 농도차의 항 n, p\nabla n,\ \nabla p는 존재
      • uniform doping 인 경우 n=p=0\nabla n=\nabla p=0, electric field=0
      • 불균일한 doping인 경우 n, p0\nabla n,\ \nabla p\not =0\\평형 상태에서 J=0J=0이 되기 위해 built-in electric field가 존재하게 됨.

  • Hot Point Probe Measurement
  • 온도가 높은 probe와 낮은 probe 사이에 전류계를 연결
  • hot probe 쪽의 입자가 더 활발하게 움직이는 점을 이용한 전류 측정
  • p-type 입자가 더 많은 경우 전류가 ( - ), n-type입자가 더 많은 경우 ( + )

3. Energy Band Diagram

  • 가로축 : x 방향
  • 원점의 valance band를 ErefE_{ref}로 가정
  • reference energy를 기준으로
    • electron potential energy : EC(x)ErefE_C(x)-E_{ref}
    • hole potential energy : ErefEV(x)E_{ref}-E_V(x)
    • conduction band 초과치 : electron kinetic energy
    • valance band 초과치 : hole kinetic energy
    • total energy = kinetic + potential
  • Electic potential V(x)=1q[EC(x)Eref]V_(x)=-\frac{1}{q}[E_C(x)-E_{ref}]
    • ECE_C 대신 Ei, EVE_i,\ E_V값이 들어갈 수 있음
    • heavy doping이 아닌 이상 EC, Ei, EVE_C,\ E_i,\ E_V는 parallel
    • 이전 그림에서 Ec(x)E_c(x)는 x에 비례하여 감소하므로 전위는 증가
  • Electric Field E(x)=V(x)=1qEC(x)E(x)=-\nabla V(x)=\frac{1}{q}\nabla E_C(x)
    • 전위가 중간에 증가하고 양 끝단에서는 일정 값을 유지하므로 중간 지점에서 강하게 나타남
  • Charge Density ρ(x)=D(x)=[ϵE(x)]=ϵ2V(x)\rho(x)=\nabla\cdot D(x)=\nabla\cdot[\epsilon E(x)]=-\epsilon\nabla^2V(x)

  • Equilibrium
    • 모든 순/역방향 캐리어 이동이 동등한 상태
    • 물리적 관측량은 변화가 없음
    • 일정한 fermi level : EF,dEF(x)/dx=0\nabla E_F,dE_F(x)/dx=0
    • Net current가 0 : JP+JN=0J_P+J_N=0
    • Net carrier generation/recombination이 0 :\\ nondegenerate 반도체에서 np=ni2np=n_i^2
    • 불균일 도핑의 경우 diffusion에 의한 전류를 drift 전류가 상쇄한다(built-in electric field)

4. Band Bending

  • 불균일한 도핑이나 applied electric field는 nonzero electric field, chage imbalance를 유발
  • nonzero electric field : potential 에너지의 기울기 존재, band banding 발생
    • electron/hole drift 전류가 존재
    • drift 전류 상쇄를 위한 diffusion current 존재
    • the law of detailed balance : equilibrium 상태에서\\ 총 electron/hole 전류는 0, 페르미 준위는 constant (np=ni2np=n_i^2)
  • equilibrium = 페르미 준위가 상수이고, 하나의 값을 갖는 상태
    • 상수 페르미 준위 = 전자/정공 전류는 0
    • 단일 페르미 준위 = 캐리어 생성/결합 비율이 동일

  • non-uniformly doped semiconductor
  • 이온화된 donor는 (+), 전자(n)은 (-) charge
    • 가운데는 donor가 더 많아 전하밀도가 (+), 양 끝은 전자가 많아 (-)
    • 전하밀도 ρ\rho는 전계의 기울기이므로 기함수 형태의 전계 그래프가 형성
  • EFE_F는 상수이고, 양 끝단에서는 EFEiE_F-E_i가 작고 중앙에서는 커지는 모양을 형성하여야 함
  • np=ni2np=n_i^2의 식을 만족하기 위해 Ec,EiE_c, E_i도 같은 모양을 형성

5. Einstein Relationship

  • Constancy of Fermi level in Equilibrium
    • 임의 지점 1, 2에서의 fermi level을 EF1, EF2E_{F1},\ E_{F2}로 가정
    • 이 지점에서의 온도를 T1,T2T_1, T_2로 가정
    • 입자의 이동 비율 r12=R0f(E1)[1f(E2)]r_{12}=R_0f(E_1)[1-f(E_2)], r21=R0f(E2)[1f(E1)]r_{21}=R_0f(E_2)[1-f(E_1)]
      • equilibrium일 때 r12=r21, f(E1)=f(E2)r_{12}=r_{21},\ f(E_1)=f(E_2)
    • 모든 E에 대해 EF1=EF2, T1=T2E_{F1}=E_{F2},\ T_1=T_2
    • 즉, EF=0\nabla E_F=0
  • Detailed Balance
    • equilibrium 상태에서 JN=JP=0, J=JN+JP=0J_N=J_P=0,\ J=J_N+J_P=0

  • Einsetin Relationship
  • diffusion current는 donor 농도가 높아지는 쪽으로 이동
  • drift current는 Energy Band level이 높아지는 쪽으로 이동
  • equilibrium 상태에서 JNdrift+JNdiff=qnμnE+qDNdndx=0J_{Ndrift}+J_{Ndiff}=qn\mu_nE+qD_N\frac{dn}{dx}=0
    • E=1qEi(x)E=\frac{1}{q}\nabla E_i(x) (electric field = intrinsic band level의 미분값)
    • n=niexp[(EFEi)/kT]n=n_iexp[(E_F-E_i)/kT]
    • dn/dx=nkT[dEFdxdEidx]dn/dx=-\frac{n}{kT}[\frac{dE_F}{dx}-\frac{dE_ i}{dx}]
    • dEF/dx=0dE_F/dx=0이므로 dn/dx=qkTnEdn/dx=-\frac{q}{kT}nE
    • JN=qnE(μnqDNkT)\therefore J_N=qnE(\mu_n-\frac{qD_N}{kT})
  • 전자의 einstein relationship : DNmun=kTq\frac{D_N}{mu_n}=\frac{kT}{q}
  • 정공의 einstein relationship : DPμp=kTq\frac{D_P}{\mu_p}=\frac{kT}{q}
  • einsteint relationship : 물질 간의 관계 - equilibrium 여부와는 무관
  • diffusion coefficient(by diffusion)와 mobility(by drift) 둘 다 scattering에 영향을 받기 때문에, 비례관계를 갖게 된다.
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Bistable Elements
  • Sequential Logic : 현재 출력이 과거 출력에 영향을 받음
  • Ocombinational=f(input)O_{combinational} = f(input)
  • Osequential=f(input,Opresent)O_{sequential} = f(input, O_{present})

Bistable Elements

  • clock signal
    • 전압이 공급되면 디지털 회로는 클락에 따라 움직임
    • high-low 시간을 합쳐 주기 period라고 함.
    • 주파수 = 1 / 주기
    • duty cycle = high / period (invert clock의 경우 low/period)

  • Latch : 입력이 바뀌면 출력도 바뀜
  • Flip-Flop : 클록이 바뀔 때 출력이 바뀜

Flip Flop

  • 이하 모든 Flipflop 해석은 Clock Rising edge일 때 신호를 읽는 것으로 가정

  • D flip-flop
    • (a) D flip-flop 내부 구조 : 2개 latch를 조합하여 사용
    • (b) truth table : D 신호에 따라 다음 신호를 결정, 그 외에는 현재 상태를 유지
    • (c) D flip-flop 회로 기호

  • tpLH/tpHLt_{pLH} / t_{pHL}

    • 신호가 low > high / high > low로 바뀌는 시간
  • thold/tsetupt_{hold} / t_{setup}

    • 클록이 바뀌기 후/전에 신호가 유지되어야 하는 시간
    • 이 시간 범위 내에 신호가 바뀌면 출력 신호가 불안정하게 된다.
  • setup/hold time을 이용하여 D flip-flop의 최소 클록을 구할 수 있다.

  • D flip flop with PR and CLR

    • Clock과 무관하게 PR(preset) 입력 시 on
    • CLR(clear) 입력 시 off
  • D flip flop with enable : enable이 입력될 때만 flip flop이 동작, 이외에는 이전 신호를 그대로 유지


  • S-R Flip Flop
    • S(set)=1 : Q = 1
    • R(Reset)=1 : Q=0
    • S, R이 모두 0 : 이전 신호 유지
    • S, R이 모두 1 : not allowed(신호 불안정)
    • scan flip-flop
      • 데이터 입력 외에 test용 enable, input이 별도로 존재
      • test enable이 high가 되면 data 대신 test input의 데이터가 입력으로 들어간다.

  • J-K flip flop
    • S-R flip flop에서의 단점을 보완
    • J가 Set, K가 reset 역할
    • J,K가 모두 high가 되면 출력을 반전

  • T(toggle) flip-flop
    • T에 on 입력 시 출력이 반전
    • T off일때는 출력 유지
    • J-K flip flop의 J, K단자를 연결한 것과 같은 동작

Clocked Synchronous State-Machine Analysis and Design

  • state machine = sequential circuit(순차회로)
  • clocked : flip-flop에서 클록 입력
  • synchronous : 클록이 변화할 때 상태가 변화 / 모든 flip-flop은 같은 clock signal에 따라 변화

  • Mealy machine
    • F(combinational logic)로 n개의 flip-flop으로 구성된 상태 메모리의 입력을 정의
    • F(next-state-logic)과 G(output logic)는 현재 상태와 입력의 조합으로 구성

  • Moore machine
    • Mealy와 다르게 출력은 현재 상태만으로 구성
    • next-state는 현재 상태와 입력의 조합으로 구성

  • Characteristic Eq.

    • 입력과 현재 상태 Q(t)로 직후의 상태 Q(t+ϵ)Q(t+\epsilon)를 표현하는 논리식
    • ex. S-R FF
    • 위 식을 단순화하면 Q*=S + R`Q의 식으로 나타난다.
  • Transition Eq.

    • Excitation Eq. : 입력 단자의 논리식
    • Characteristic Eq. : state memory의 다음 상태를 정의
    • Transition Eq. : excitation eq.를 이용하여 다음 상태를 정의
    • output Eq. : 시스템의 출력

  • state machine
    • 상태표를 그림의 형태로 표현
    • mealy machine
      • 다음 상태와 출력이 현재 상태와 입력의 조합으로 구성
      • circle에는 현재 상태, 화살표는 입력의 변화를 표시
      • 입력이 변화할 때 출력과 상태가 모두 변하므로, 화살표에 입/출력을 모두 표기한다.
    • moore machine
      • 출력은 현재 상태로, 다음 상태는 입력과 현재 상태의 조합으로 구성
      • circle 안에 출력이 표시되며, 화살표에는 입력의 변화만 나타난다.

Clocked synchronous state-machine design

  • Design example
    • 입력 A, B, 출력 Z를 갖는클록 동기화 machine를 설계
    • 다음의 경우 Z=1:
      • A가 2개 tick동안 같은 값을 유지하는 경우
      • 위 조건을 만족한 이후 B가 1을 유지하는 경우
    • 그 외 Z=0
    • 위 조건을 기준으로 하는 state table 작성
      • INIT : 초기 상태
      • A0(A1) : 이전에 0(1)이 입력된 경우
      • OK0(OK1) : 이전에 0(1)이 두번 입력된 경우
    • State Assignment
      • 1-bit = 1-flip flop
      • 상태의 개수 = m이라고 할 때 최소 flip flop # = log2m\lceil log_2m\rceil
      • 주어지는 조건의 영향을 많이 받게 됨
        • D-flipflop을 쓸 것인지/J-K flipflop을 쓸 것인지
        • SOP/POS 표현 중 어떻게 나타낼 것인지
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1. Expectation

1. Expectation

  • 주어진 랜덤 변수에 대한 평균값

  • E[X]=X={xfX(x)dx(continuous R.V.)i=1xiP(xi)(discrete R.V.)E[X]=\overline{X}=\begin{cases} \int xf_X(x)dx (continuous\ R.V.)\\ \sum_{i=1}^\infty x_iP(x_i) (discrete\ R.V.) \end{cases}

    • ex. 주사위 던지기
      • E[X]=16(1+2+3+4+5+6)=3.5E[X]=\frac{1}{6}(1+2+3+4+5+6)=3.5
    • ex2. 가우시안 분포
      • fX(x)=12πσ2exp((xμ)22σ2)f_X(x)=\frac{1}{\sqrt{2\pi\sigma^2}}exp(-\frac{(x-\mu)^2}{2\sigma^2})
      • E[X]=x2πσ2exp((xμ)22σ2)dxE[X]=\int^\infty_{-\infty}\frac{x}{\sqrt{2\pi\sigma^2}}exp(-\frac{(x-\mu)^2}{2\sigma^2})dx
      • (치환적분 t=xμt=x-\mu) =t+μ2πσ2exp(t22σ2)dt=\int^\infty_{-\infty}\frac{t+\mu}{\sqrt{2\pi\sigma^2}}exp(-\frac{t^2}{2\sigma^2})dt
      • (t exp(t2)dt=0) μexp(t22σ2)2πσ2dt(\because\int^\infty_{-\infty}t\ exp(-t^2)dt=0)\ \mu\int^\infty_{-\infty}\frac{exp(-\frac{t^2}{2\sigma^2})}{\sqrt{2\pi\sigma^2}}dt - 평균 0, 분산σ2\sigma^2인 가우시안 분포
      • E[X]=μ\therefore E[X]=\mu
  • 랜덤변수 X, Y / 상수값 c에 대해

    • E[X+Y]=E[X]+E[Y]E[X+Y]=E[X]+E[Y]
    • E[cX]=cE[X]E[cX]=cE[X]
  • 조건부 기댓값

    • E[XB]=xfX(xB)dxE[X|B]=\int^\infty_{-\infty}xf_X(x|B)dx

  • Moment
    • 확률분포 상의 통계량에 대한 일반화
    • mn=E[Xn]=xnfX(x)dxm_n=E[X^n]=\int^\infty_{-\infty}x^nf_X(x)dx
    • m1=E[X]m_1=E[X] : 평균값
    • 분산 E[(Xm1)2]E[(X-m_1)^2]
      =E[X22m1X+m12]=E[X2](E[X])2=E[X^2-2m_1X+m_1^2] = E[X^2]-(E[X])^2
      m2=E[X2]=Var(X)+(E[X])2\therefore m_2=E[X^2]=Var(X)+(E[X])^2
  • Central Moment
    • X의 평균에 대한 moment
    • μn=E[(XX)n]=(xX)fX(x)dx\mu_n=E[(X-\overline{X})^n]=\int^\infty_{-\infty}(x-\overline{X})f_X(x)dx
    • μ0=1,μ1=0\mu_0=1, \mu_1=0
    • μ2=E[(XX)2]\mu_2=E[(X-\overline{X})^2] : 분산
    • 왜도(skewness) : μ3/σ33\mu_3/\sigma_3^3
    • 첨도(kurtosis) : (mu4/σ44)3(mu_4/\sigma_4^4) - 3

2. Inequality

  • chebychev's Inequality

    • P(XXϵ)σX2ϵ2(ϵ0)P(|X-\overline{X}|\geq\epsilon)\leq\frac{\sigma_X^2}{\epsilon^2}(\epsilon\geq0)
    • 평균 주변의 일정 범위 (ϵ\epsilon) 바깥에 위치할 확률은 표준편차에 비례
  • Markov's Inequality

    • a>0,X0a>0, X\geq0일 때
    • P(Xa)E[X]]aP(X\geq a)\leq\frac{E[X]]}{a}

3. Characteristic Function

  • ΦX(w)E[ejwX]=fX(x)ejwxdx\Phi_X(w)\equiv E[e^{jwX}]=\int^\infty_{-\infty}f_X(x)e^{jwx}dx
  • (inverse) fX(x)=12πΦX(w)ejwxdwf_X(x)=\frac{1}{2\pi}\int^\infty_{-\infty}\Phi_X(w)e^{-jwx}dw
  • moment mn=(j)ndnΦX(w)dwnw=0m_n=(-j)^n\frac{d^n\Phi_X(w)}{dw^n}|_{w=0}
  • ΦX(w)ΦX(0)=1|\Phi_X(w)|\leq\Phi_X(0)=1

Moment Generating Function

  • MX(v)E[evX]=fX(x)evxdxM_X(v)\equiv E[e^{vX}]=\int^\infty_{-\infty}f_X(x)e^{vx}dx
  • moment mn=dnMX(v)dvnv=0m_n=\frac{d^nM_X(v)}{dv^n}|_{v=0}
  • X가 평균 μ\mu, 분산 σ2\sigma^2을 갖는 정규분포일 때
    MX(v)=eμv+12σ2v2M_X(v)=e^{\mu v+\frac{1}{2}\sigma^2v^2}
  • Chernoff Inequality : P(Xa)evaMX(v)P(X\geq a)\leq e^{-va}M_X(v)

4. Transformations of R.V.

  • Monotonic Transformation of R.V.
    • Y=T(X)Y=T(X)는 랜덤변수
    • fX0f_X\not ={0}인 경우 T는 연속적이며 미분 가능
    • T는 단조함수(monotonic) - 계속해서 증가 or 감소
    • Y의 pdf fY(y)=fX(x)dxdy=fX(x)T(x)f_Y(y)=f_X(x)|\frac{dx}{dy}|=\frac{f_X(x)}{T'(x)}
      • ex. x : uniform dist, y : x\sqrt{x}일 때
        • fY(y)=fX(x)/dydx=2xfX(x)=2yfX(x)=2yf_Y(y)=f_X(x)/|\frac{dy}{dx}|=2\sqrt{x}f_X(x)=2yf_X(x)=2y
    • 랜덤변수 X가 가우시안 분포, Y=aX + b의 형태가 되면 랜덤변수 Y 역시 가우시안 분포이다.
      • 평균 = aμx+ba\mu_x + b
      • 분산 σY2=a2σX2\sigma_Y^2=a^2\sigma_X^2
  • Non-Monotonic Transformation of R.V.
    • 랜덤변수 Y의 함수 T가 monotonic하지 않은 경우
    • ex. fX(x)=(xx1)(xx2)(xx3)f_X(x) = (x-x_1)(x-x_2)(x-x_3)
      • FY(y0)=P(Yy0)=P(Xx1)+P(x2Xx3)=FX(x1)+[FX(x3)FX(x2)]F_Y(y_0) = P(Y\leq y_0) = P(X\leq x_1) + P(x_2\leq X\leq x_3)\\ = F_X(x_1)+[F_X(x_3)-F_X(x_2)]
      • fY(y)=fX(x1)dx1dy+fX(x1)dx1dy+[fX(x3)dx3dyfX(x2)dx2dy]f_Y(y)=f_X(x_1)|\frac{dx_1}{dy}|+f_X(x_1)|\frac{dx_1}{dy}|+[f_X(x_3)|\frac{dx_3}{dy}|-f_X(x_2)|\frac{dx_2}{dy}|]
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2. Dynamic Models

2. Dynamic Models

  • 컨트롤러 설계 전에 구하는 시스템 제어를 위한 시스템의 수학적 표현식
  • 시스템의 동작을 나타내는 미분방정식
  • 기계적 시스템, 전기회로, 전기적(electromechanical) 시스템

2.1. Dynamics of Mechanical Systems

  • 뉴턴의 법칙 - translational motion F=ma\vec{F}=m\vec{a}
  • F\vec{F} : 질량에 가해지는 힘의 벡터합
  • a\vec{a} : 질량에 가해지는 관성 가속도
  • mm : 질량
  • 1N=1kgm/sec21N = 1kg\cdot m/sec^2
  • ex 1. Cruise-control model
    • 자동차는 수평 방향으로 이동한다고 가정
    • 바퀴의 회전관성은 무시
    • 자동차-지면 사이의 마찰력은 속도에 비례
    • ubx=mxu-bx`=mx``
    • (구하려는 값은 속도xvx`\coloneqq v)v+bmv=umv`+\frac{b}{m}v=\frac{u}{m}
    • (라플라스 변환)sV(s)+bmV(s)=U(s)msV(s)+\frac{b}{m}V(s)=\frac{U(s)}{m}
    • V(s)U(S)=1/ms+b/m\frac{V(s)}{U(S)}=\frac{1/m}{s+b/m}
  • ex 2. suspension system
    • 서스펜션은 오직 1차원 수직운동을 한다.
    • 자동차 바퀴에는 무게가 균등하게 분산된다.
    • m1m_1 : 타이어의 무게 / m2m_2 : 자동차 무게의 1/4
    • x : 타이어의 변위 / y : 차체의 변위 / r : 높이의 변화
    • k : 용수철의 탄성계수 / b : 댐퍼 계수
    • 변위에 따른 응답을 계산하므로 중력가속도에 의한 힘 m1g, m2gm_1g,\ m_2g는 상쇄되어 사라진다.
    • 정해진 상황(ex. m2는 멈춘 채로 m1만 위로 움직인다)에 대한 differential eq.를 구하더라도 그 식은 시스템 내의 고유한 응답을 나타내는 식이기 때문에 다른 상황에 대해서도 성립할 수 있게 된다.
    1. m1m_1만 움직이는 경우
      • 아래 스프링 kwk_w는 늘어나고, 위 스프링 ksk_s는 압축된다.
      • 지변 변위를 고려하면 아래로 가해지는 힘은 kw(xr)k_w(x-r)
      • 위 스프링의 경우 m2m_2가 y방향으로 이동할 것을 고려하면 스프링의 힘은 ks(yx)k_s(y-x) (x, y 둘다 지면 변위의 영향을 받으므로 식에서는 상쇄된다.)
      • 댐퍼 역시 y방향 변위를 고려하면 b(yx)b(y'-x')
    2. m2m_2만 움직이는 경우
      • 스프링에 의한 힘 ks(yx)k_s(y-x)
      • 댐퍼에 의한 힘 b(yx)b(y`-x`)
    3. 입력 : 높이 변위 r / 출력 : 자동차의 높이 변화 y
      • i. b(yx)+ks(yx)kw(yx)=m1xb(y'-x')+k_s(y-x)-k_w(y-x)=m_1x``
      • ii. [b(yx)+ks(yx)]=m2y-[b(y`-x`)+k_s(y-x)]=m_2y``
      • ii를 x에 대해 정리 후 i에 대입하면 Y(s)R(s)=kw(sb+ks)/m1m2s4+b(1m1+1m2)s3+(ksm1+kwm1+ksm2)s2+kwbm1m2s+kwksm1m2\LARGE{\frac{Y(s)}{R(s)}=\frac{k_w(sb+k_s)/m_1m_2}{s^4+b(\frac{1}{m_1}+\frac{1}{m_2})s^3+(\frac{k_s}{m_1}+\frac{k_w}{m_1}+\frac{k_s}{m_2})s^2+\frac{k_wb}{m_1m_2}s+\frac{k_wk_s}{m_1m_2}}}
  • 회전운동에 대한 뉴턴운동의 법칙
    • M=IαM=I\alpha
    • M : 회전 중심에 대한 모멘트의 합
    • I : 무게중심에 대한 회전관성모멘트 (I=ml2I=ml^2)
    • α\alpha : 각가속도
    • ex. Pendulum
    • 운동방정식 TCmglsinθ=IθT_C-mglsin\theta=I\theta''
    • θ+glsinθ=TCml2\theta''+\frac{g}{l}sin\theta=\frac{T_C}{ml^2}
    • 작은 운동에 대해서 sinθθsin\theta\simeq\theta
    • Transfer Eq. Θ(s)TC(s)=1/ml2s2+g/l\frac{\Theta(s)}{T_C(s)}=\frac{1/ml^2}{s^2+g/l}
  • 실험 오차
    • 펜듈럼 모델을 Matlab으로 실험하여 보면 정현파 형태로 나타나는 것을 확인 가능하다.
    • 계산 편의상 단순화한 부분들에 대해 오차가 발생하기 때문에 실제 실험 결과와는 차이가 발생할 수밖에 없다.
  • ex. 회전 운동과 직선 운동의 조합
    • 질량 mt,mpm_t, m_p인 크레인과 펜듈럼이 각각 직선/회전운동
    • μ\mu가 가해지며, 차량은 x방향으로 이동
    1. 회전운동
    • 중력에 의해 지면 방향으로의 회전운동이 발생 : mpglsinθ-m_pglsin\theta
    • 크레인의 직선운동에 의한 펜듈럼의 관성 : mpxcosθm_px''cos\theta
    • (I+mpl2)θ=(mpxcosθ+mpglsinθ)\therefore (I+m_pl^2)\theta''=-(m_px''cos\theta + m_pglsin\theta)
    1. 직선운동
      • 작용-반작용 N과 마찰계수 b를 고려
      • uNbx=mtxu-N-bx'=m_tx''
      • 펜듈럼에 의한 반작용
        • 펜듈럼 운동 mpxm_px''
        • 회전 운동 mplθcosθm_pl\theta''cos\theta
        • 구심력 mv2r=mpl(θ)2sinθ\frac{mv^2}{r}=m_pl(\theta')^2sin\theta
        • N=mpx+mplθcosθmpl(θ)2sinθN=m_px''+m_pl\theta''cos\theta-m_pl(\theta')^2sin\theta
    • simplify : b=0,θ0sinθ=θ,cosθ=1b = 0, \theta\simeq0 \rArr sin\theta = \theta, cos\theta = 1
      • 회전운동 : mplxmpglθ=(I+mpl2)θ-m_plx''-m_pgl\theta=(I+m_pl^2)\theta''
      • 직선운동 : (mt+mp)x+mplθ=u(m_t+m_p)x''+m_pl\theta''=u
    • 라플라스 변환
      • 회전운동 : s2mplX(s)mpglΘ(s)=s2(I+mpl2)Θ(s)-s^2m_plX(s)-m_pgl\Theta(s)=s^2(I+m_pl^2)\Theta(s)
      • 직선운동 : s2(mt+mp)X(s)+s2mplΘ(s)=U(s)s^2(m_t+m_p)X(s)+s ^2m_pl\Theta(s)=U(s)
    • 회전운동의 식을 X(s)X(s)에 대해 정리 후 직선운동에 대입하면
    • Θ(s)U(s)=mpl((l+mpl2)(mt+mp)mp2l2))s2+mpgl(mt+mp)\frac{\Theta(s)}{U(s)}=\frac{-m_pl}{ ((l+m_pl^2)(m_t+m_p)-m_p^2l^2))s^2+m_pgl(m_t+m_p)}
    • 전달함수의 단점 : 단일 입력-단일 출력(SISO)에 대한 수식 모델 설계 가능

  • 정리
    1. 대상 시스템의 dynamic behavior 단순화
    2. free-body diagram
    3. 뉴턴의 법칙 / 회전운동 / 전자회로 등을 이용한 미분방정식
    4. 초기값 = 0인 조건 하에 Laplace Transform
    5. Transfer function = 출력 / 입력
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