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IOT 기기의 센서

  • 센서는 인터넷에 연결되어 있어야 데이터 전송 가능
    • 센서 : 환경의 물리적인 값을 전기적 신호로 변환
    • 컨트롤러와 연결되기 위해서는 유/무선 인터넷 필요
  • 컨트롤러의 역할
    • 센서의 데이터를 네트워크로 연결
    • 다른 컴퓨터로 전송하여 분석하도록 함
    • 의사결정의 역할
  • 액추에이터 : 물리적 조작 역할
  • 센서(정보) > 컨트롤러(판단) > 액추에이터(동작)
  • IoT 기기는 저전력으로 센서의 가용성(시간)의 최적화, 최대화 필요

IoT기기의 핵심기술

  • 저전력 네트워킹 : 저전력을 사용하는 통신기술
  • 센서 데이터 최적화 및 관리 : 데이터의 경로 설정, 흐름 제어
  • 저전력 임베디드 OS : 제한된 메모리의 HW에서 데이터 수집, 전송을 효율적으로 관리
  • 전력 공급 및 저장 : 다양한 IoT 기기에 따른 고밀도 배터리, 무선 충전 기술
  • 저가, 저전력 프로세서 : 단말기의 빠른 확산을 위한 가격 절감 필요

IoT기기의 데이터전송

  • gateway 또는 서버에 접속하여 데이터 통신
  • https, https 프로토콜을 이용하여 기기 간 통신 및 GUI 환경에서 기기 제어

IoT 시스템의 요소

  • 특히 보안이 중요한 요소
  • KISA의 경우 IOT 보안을 5가지 요소로 분류하여 인증
    • 인증 :사용자 인증, 인증정보의 안전한 사용, 제품인증
    • 암호 :안전한 암호 알고리즘 사용, 안전한 키 관리, 안전한 난수 생성
    • 데이터보호 : 전송·저장 데이터 보호, 정보흐름 통제, 안전한 세션관리, 개인정보 보호
    • 플랫폼보호 : 소프트웨어 보안, 안전한 업데이트, 보안 관리, 감사기록, 타임스탬프
    • 물리적보호 : 물리적 인터페이스 보호, 무단조작 방어

패킷트레이서 실습 : IOT 장치 연결

  • 배터리, 기압계, LED, RFID, 전력계, 자동차, 태양광 패널 등 다수의 장치 지원
  • 각 IOE 기기는 기본적으로는 유선 랜카드로 연결
    • advanced 설정을 통해 무선 혹은 이동통신(3G, 4G)로 연결되도록 변경 가능(W)
    • -CFE : 유선, -W : 무선, -3G/4G : 이동통신
  • Gateway를 통한 무선연결
    • 패킷트레이서에서 무선연결은 기본적으로 자동 연결
    • 무선 연결이 안되는 경우 SSID 확인 (Gateway - device 간 SSID가 서로 일치하여야 함)
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현대 인터넷 비즈니스

  • OSI 1(물리), 2(데이터링크) 계층의 연결 구분
    • 유선 네트워크 : 모든 장치가 물리적 회선으로 연결
    • 무선 네트워크 : 일부 장치가 무선으로 연결
  • 네트워크의 종류
    • BAN(Body Area Network) : 몸에 부착된 기기가 스마트폰과 연결
    • PAN(Personal Area Network) : 스마트폰 블루투스를 이용한 기기 연결(BAN과 구분 모호)
    • LAN(Local Area Network) : 집, 회사 등 한 영역에 한정된 네트워크, 라우터 단위 연결
    • WAN(Wide Area Network) : ISP-ISP 간 연결, LAN-LAN 간 연결
      • 클라우드 : 온라인 상에 자료를 공유, 동기화하여 최신 상태로 유지
      • 웹하드의 경우 단순한 자료 업/다운로드이므로 클라우드와는 차이가 존재
      • Fog Computing(=Edge Computing) : 데이터 발생 지점에서 데이터를 처리, 클라우드 컴퓨팅의 처리 부담을 경감

Packet Tracer 실습

  • PC, 서버, 스위치, 라우터를 이용한 네트워크 구성
  • PC는 스위치에 연결
  • 라우터는 서버와 스위치에 연결
  • PC 설정
    • 더블 클릭 후 Desktop-Ip configuration
    • IP address에 설정할 PC IP 입력(subnet mask는 자동 설정)
    • Default Gateway에 가장 가까운 라우터 IP 입력
    • 서버는 라우터에 직접 연결, 그 외에는 PC와 동일한 방법으로 설정
  • 라우터 설정
    • Config-Interface-Ethernet
    • Port status의 on 체크, Ip address에 설정할 IP 입력
  • 연결 확인
    • PC에서 dektop-command prompt로 이동하여 server, router 등의 ip로 ping xxx.xxx.xxx.xxx 명령어로 연결 확인
    • 우하단 패킷 트레이서 시뮬레이션 설정을 realtime에서 simulation으로 바꾸면 패킷의 이동을 확인 가능
    • 좌상단 메뉴의 add simple PUU를 통해 연결상태를 확인하고 싶은 기기를 각각 클릭하여 통신 상태 확인 가능

 

      • config-wireless로 게이트웨이, 장치의 SSID 확인 후 일치하도록 설정
    • 무선 연결을 위해 IOT기기는 config-settings에서 IOT server에서 remote server로 설정, 서버 주소는 gateway로 설정, ID/PW는 기본값 admin/admin
  • DHCP 서버를 이용한 유선 연결
    • 스위치를 중심으로 한 star topology
    • 서버 IP는 static으로 수동 설정
    • DHCP로 자동 설정 (서버 이용)
      • 서버 IP configuration에 static IP 설정
      • 서버 services - DHCP on, DNS값에 서버 IP 입력 후 add
      • 서버 services - DNS on, name에 서버 도메인, address에 서버 IP 입력 후 add
      • end device의 ip configuration에 DHCP 설정시 IP는 자동으로 연결됨
      • IOT 기기는 무선 연결과 동일하게 remote 서버 설정
  • 연결 후 PC-desktop-browser에서 도메인/ip로 이동하면 연결된 IOT 기기 확인 가능
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IOT

  • 사물이 센서와 통신기기를 통해 연결되어 데이터를 주고받아 발생할 수 있는 모든 서비스와 기술

  • (IDC korea, 2020/3/1) 2019 국내 IoT 플랫폼은 전년 대비 19.5% 증가, 23년까지 16.1% 증가 예상

  • IoT 발전 전망(정보통신기획평가원) - 현재는 2단계 수준

    • 1단계(단말형) : 단순 sensor 수준
    • 2단계(연결형) : 사물-사물 간 통신 가능, 데이터 저장 및 관리 수준
    • 3단계(지능형) : 데이터 처리와 분석(머신러닝, 빅데이터)가 가능한 수준
    • 4단계(자율형) : 자동화 기반 자율 지능(진화학습) 및 자율협업 수준
  • 5G서비스, 인공지능 , 기계학습, 스마트홈 등이 모두 IoT 서비스에 포함

    • AIoT(AI + IoT) : 어플리케이션 기반의 가전제품 조정
    • IIoT(Industrial IoT) : 산업용 물류, 제조 등에 적용
    • IOMT(Internet of Medical Things) : 스마트 기기를 이용한 통합치료
    • IOHT(Internet of Health Things) : 원격진료

패킷 트레이서의 활용

  • 센서 입력시 동작 방식 : 단순 알람 or 이벤트 trigger
  • 패킷 트레이서를 이용하여 센서값을 이용한 알람 및 기기간 trigger 동작을 분석 가능
  • IoT 기기 간 연결 확인 및 control

4차 산업혁명의 영향

  • 더 많은 사람들이 일상에서 스마트 기기의 사용을 편하게 생각함
  • 온라인 서비스의 증가
  • 데이터를 수집하는 센서가 늘어남
  • 저장 및 분석할 데이터 양 증가 및 다양화
    • 산업 : 새로운 소비 경향 예측
    • 정보 : 공공 산업 계획
    • 도시 : 공공 시설 제어, 공공 서비스 신속화
  • ex. 스페인 바르셀로나
    • 공공기반 시설의 제어를 위해 센서를 사용하여 주차 및 물 사용량 등에 활용

네트워크

  • 네트워크는 인터넷의 기반 제공
  • 무선 및 디지털 기술의 발전으로 통신 범위가 점차 확대
  • 집에서의 단순한 구성부터 회사 조직 단위의 거대 네트워크까지 다양
  • 사실상 인터넷 = 네트워크의 네트워크 (현존하는 가장 큰 네트워크)
  • IBN, Intent Based Networking : 소프트웨어를 사용하여 네트워크에 연결된 장치 제어
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3. Dynamic Response

3. Dynamic Response

1. Laplace transform

  • 미분 방정식의 풀이를 위해 사용
  • L{f(t)}=0f(t)estdt=F(s)\mathcal{L}\{{f(t)}\}=\int_0^\infty f(t)e^{-st}dt=F(s)
    • 시간 영역의 함수 f(t)를 주파수 영역의 함수 F(s)로 변환
    • s=σ±jws=-\sigma\pm jw
    • jwjw : f(t)의 주파수
    • σ\sigma : 진폭의 감쇄
    • Fourier Transform : s=±jws=\pm jw에 대한 Laplace Transform
  • Laplace Transform Property
    • L{f(t)}=F(s)\mathcal{L}\{f(t)\}=F(s)
    • L1{F(s)}=f(t)\mathcal{L}^{-1}\{F(s)\}=f(t) (inverse L.T.)
    • L{kf(t)}=kF(s)\mathcal{L}\{kf(t)\}=kF(s)
    • L{f1(t)+f2(t)}=F1(s)+F2(s)\mathcal{L}\{f_1(t)+f_2(t)\}=F_1(s)+F_2(s)
    • L[df(t)dt]=sF(s)+f(0)\mathcal{L}[\frac{df(t)}{dt}]=sF(s)+f(0)
    • L[dnf(t)dtn]=snF(s)sn1f(0)sn2f(0)...fn1(0)\mathcal{L}[\frac{d^nf(t)}{dt^n}]=s^nF(s)-s^{n-1}f(0)-s^{n-2}f'(0)-...-f^{n-1}(0)
    • L[0tf(τ)dτ]=1sF(s)\mathcal{L}[\int^t_0f(\tau)d\tau]=\frac{1}{s}F(s)


2. Inverse Laplace Transform

  • F(s)=b1sm+b2sm1+...+bm+1sn+a1sn1+...+an=KΠi=1m(szi)Πi=1n(spi)F(s)=\frac{b_1s^m+b_2s^{m-1}+...+b_{m+1}}{s^n+a_1s^{n-1}+...+a_n}=K\frac{\Pi_{i=1}^m(s-z_i)}{\Pi_{i=1}^n(s-p_i)}
    • 실제 존재할 수 있는 Transfer function에 대해 nmn\geq m
    • ziz_i : 함수의 영점(zero)
    • pip_i : 함수의 극점(pole)
    • Partial Fraction : F(s)=C1sp1+C2sp2+...+CmspnF(s)=\frac{C_1}{s-p_1}+\frac{C_2}{s-p_2}+...+\frac{C_m}{s-p_n}
      • C1=(sp1)F(s)s=p1C_1=(s-p_1)F(s)|_{s=p_1}

3. Final-value Theorem

  • Laplace Transform을 이용, 시간이 무한히 흘렀을 때의 시스템의 최종값 계산
  • sY(s)의 모든 극값이 좌반면 (s < 0)에 존재하는 경우
    • limty(t)=lims0sY(s)\lim_{t\rarr\infty}y(t)=lim_{s\rarr0}sY(s)
  • sY(s)의 모든 극값이 좌반면에 존재한다
    • = 분모의 식이 (s+a)(s+b)(s+c)...꼴로 표현
    • 이는 y(t)=A0+A1eat+A2ebt...y(t)=A_0+A_1e^{-at}+A_2e^{-bt}..., 즉 0으로 수렴하는 식으로 표현
    • 만약 우반면에 존재하는 극값이 존재할 경우 y(t)는 무한으로 발산
  • DC Gain
    • 임의 시스템의 Transfer Function G(s)와, 입력U(s), 출력Y(s) 가정
    • G(S)=Y(s)U(s)G(S)=\frac{Y(s)}{U(s)}
    • DC gain = limty(t)u(t)=lims0G(s)lim_{t\rarr\infty}\frac{y(t)}{u(t)}=lim_{s\rarr0}G(s) : 입력과 무관한 시스템 고유의 특성

4. System Modeling

  • 시스템의 신호 흐름을 표시
  1. 직렬 결합
    • G1, G2의 두 시스템이 같은 선에 위치할 경우
    • 시스템은 G1, G2의 곱으로 표시
  2. 병렬 결합
    • 분기점을 기준으로 G1, G2가 나눠진 후 다시 결합
    • 시스템은 G1, G2의 합으로 표시
  3. 피드백
    • 진행 방향1feedback loop\frac{진행\ 방향}{1\mp feedback\ loop}
    • Unit negative feedback : feedback block이 1인 Block diagram
      • 출력 신호가 온전히 input으로 들어오는, 이상적인 feedback

  • 분기점(pickoff point) 이전의 분기신호를 분기점 이후로 옮기면, 중간에 있는 block의 역수인 block을 곱하여 배치한다.
  • 신호가 합쳐진 뒤 있는 block은 합쳐지기 전 각각 신호에 block이 있는 회로와 동일
  • feedback을 전향경로와 동일한 선에 배치할 때, feedback point 이전에 피드백 block의 역수인 block을 배치한다.

5. Effect of Pole Location

  • 시스템의 전달함수가 H(s)H(s)일 때
    • H(s)=b(s)a(s)=b1sm+b2sm1...+bms+bm+1a1sn+a2sn1...+ans+an+1=KΠi=1m(szi)Πi=1n(spi)H(s)=\frac{b(s)}{a(s)}=\frac{b_1s^m+b_2s^{m-1}...+b_ms+b_{m+1}}{a_1s^n+a_2s^{n-1}...+a_ns+a_{n+1}}=K\frac{\Pi_{i=1}^m(s-z_i)}{\Pi_{i=1}^n(s-p_i)}
    • pole : H(s)H(s)\infty가 되는 값들 (a(s)=0a(s)=0)
    • zero : H(s)H(s)가 0이 되는 값들 (b(s)=0b(s)=0)
  • Impulse response
    • impulse function : let u(t)=δ(t)u(t)=\delta(t), U(s)=1U(s)=1
    • 시스템 H(s)H(s)의 impulse 입력에 대한 출력
    • Y(s)=H(s)U(s)=H(s)1=H(s)Y(s)=H(s)U(s)=H(s)\cdot1=H(s)
      출력 y(t)=L1{H(s)}=h(t)y(t)=\mathcal{L}^-1\{H(s)\}=h(t)
      • 크기가 1인 순간 출력에 대한 응답이므로, 시스템 자체의 고유한 response이기 때문에 impulse response를 natural response라고도 함.

  • ex. 1st order pole
    • H(s)=1s+σH(s)=\frac{1}{s+\sigma}
    • impulse response h(t)=exp[σt]h(t)=exp[-\sigma t]
    • σ\sigma가 양수일 때 시간에 따라 response가 0으로 수렴하며, 이를 stable하다고 표현
      • H(s)H(s)의 pole이 음수(s-plane의 좌반면)일 때 시스템은 stable한 상태가 됨
    • 1차 시스템의 time constant
      • 시스템 response가 1e\frac{1}{e}가 되는 시간 τ\tau
      • time constant가 클 수록 응답의 속도가 빠름

  • ex. 2개의 complex pole을 갖는 시스템

    • pole s=σ±jwds=-\sigma\pm jw_d
    • H(s)=wn2(s+σ)2+wd2=wn2s2+2ζwns+wn2H(s)=\frac{w_n^2}{(s+\sigma)^2+w_d^2}=\frac{w_n^2}{s^2+2\zeta w_ns+w_n^2}
    • ζ\zeta : damping ratio (속도에 의한 감쇠)
    • wnw_n : damping이 없을 때 진동 주파수
    • wdw_d : damping이 있을 때 진동 주파수 (wd=wn1ζ2w_d=w_n\sqrt{1-\zeta^2})
    • impulse response h(t)h(t)는 지수함수와 삼각함수의 곱으로 표현됨
  • s-plane expression

    • pole s=σ±jwds=-\sigma\pm jw_d
    • wn2=wd2+σ2w_n^2=w_d^2+\sigma^2
    • σ=ζwn\sigma=\zeta w_n에서 ζ=σwn=sinθ\zeta=\frac{\sigma}{w_n}=sin\theta
      θ=sin1ζ\theta=sin^{-1}\zeta
  • 2차 시스템의 impulse response

    • H(s)=wn2(s+σ)2+wd2H(s)=\frac{w_n^2}{(s+\sigma)^2+w_d^2}
      ( σ=ζwn\sigma=\zeta w_n, wd=wn1ζ2w_d=w_n\sqrt{1-\zeta^2})
      =wn2(s+ζwn)2+wn2(1ζ2)=\frac{w_n^2}{(s+\zeta w_n)^2+w_n^2(1-\zeta^2)}

    • (L.T.)eatsin(bt)=b(s+a)2+b2(L.T.)e^{-at}sin(bt)=\frac{b}{(s+a)^2+b^2}
      wn1ζ2wn1ζ2(s+(ζwn)2+wn2(1ζ2)\frac{w_n}{\sqrt{1-\zeta^2}}\frac{w_n\sqrt{1-\zeta^2}}{(s+(\zeta w_n)^2+w_n^2(1-\zeta^2)}
      a=ζwna=\zeta w_n, b=wn1ζ2b=w_n\sqrt{1-\zeta^2}

    • h(t)=wn1ζ2eζwntsin[(wn1ζ2)t]\therefore h(t)=\frac{w_n}{\sqrt{1-\zeta^2}}e^{-\zeta w_nt}sin[(w_n\sqrt{1-\zeta^2})t]

    • 2차 시스템의 impulse response는 undamped natural frequency wnw_n과 damping ratio ζ\zeta에 의해 결정

      • ζ=0\zeta=0 : 감쇄 없이 진동
      • ζ<1\zeta<1 : 감쇄하면서 진동 (underdamped)
      • ζ=1\zeta=1 : 진동 없는 감쇄 (Critical damped)
      • ζ>1\zeta>1 : 목표값보다 과하게 감쇄되어 벗어남 (overdamped)
    • damping ratio 0ζ10\leq\zeta\leq1 가 증가 > 실제 주파수 감소

    • damping ratio가 증가 > 허수축에서 pole이 멀어짐 > θ\theta 증가


6. Step Response

  • 임의 시스템 H(s)H(s)의 unit step u(t)u(t)에 대한 응답
  • unit step의 laplace transform U(S)=1sU(S)=\frac{1}{s}
  • step response는 0에서 시작해서크기 1을 향해 진동하면서 수렴
  • rising time (trt_r) : 목표값의 10%에서 90%까지 상승하는 시간
  • peak time (tpt_p) : 시작점에서 peak점에 도달할 때까지의 시간
    • step response : Y(s)=wn2(s+σ)2+wd21sY(s)=\frac{w_n^2}{(s+\sigma)^2+w_d^2}\frac{1}{s}
    • y(t)=1eσt[coswdt+σwdsinwdt]y(t)=1-e^{-\sigma t}[cosw_dt+\frac{\sigma}{w_d}sinw_dt]
    • peak time에서 응답곡선 기울기 = 0
    • y˙(t)=eσt[σ2wdsinwdt+wdsinwdt]=0\dot{y}(t)=e^{-\sigma t}[\frac{\sigma^2}{w_d}sinw_dt+w_dsinw_dt]=0
    • wdt=πw_dt=\pi인 시간이 peak time : tp=πwdt_p=\frac{\pi}{w_d}
    • peak time은 damped natural frequency의 함수
  • Overshoot (MpM_p) : peak값과 목표값의 차이
    • Mp=1y(tp)=1(1+eσπ/wd)=exp[σπ/wd]M_p=1-y(t_p)=1-(1+e^{-\sigma\pi/w_d})=exp[-\sigma\pi/w_d]
    • σ=ζwn\sigma=\zeta w_n, wd=wn1ζ2w_d=w_n\sqrt{1-\zeta^2}이므로
      Mp=exp[πζ/1ζ2]M_p=exp[-\pi\zeta/\sqrt{1-\zeta^2}]
    • overshoot는 damping ratio의 함수
  • settling time : 응답곡선이 목표값의 ±1%\pm1\%내에 도달하는 시간

  • Controller Design
    • 2차 step response Y(s)=wn2(s+σ)2+wd21sY(s)=\frac{w_n^2}{(s+\sigma)^2+w_d^2}\frac{1}{s} 의 주요 parameter :
      rising time, peak time, overshoot, settling time
    • settling time
      • 응답 y(t)=0.01이 되는 시간
      • σ4.6ts\sigma\geq\frac{4.6}{t_s}
    • rising time
      • 목표값의 10%에서 90%까지 상승하는 시간
      • wn1.8trw_n\geq\frac{1.8}{t_r}

7. Stability

  • Routh's Stability Criterion
    • 임의 시스템의 pole이 모두 s-plane 좌반면에 존재하면 시스템은 stable

    • n차 시스템 a(s)=sn+a1sn1+a2sn2+...+ana(s)=s^n+a_1s^{n-1}+a_2s^{n-2}+...+a_n의 안정도 판단

    • 안정 시스템의 필요조건 : 모든 계수 a1a_1~ana_n이 양수

    • 안정 시스템의 필요충분조건 : routh array의 1번 열이 모두 양수

    • special case

      • 계수의 행이 최소공배수를 갖는 경우 최소공배수로 나누어 표현 가능 (부호는 변경할 수 없음)
        • ex. 행 계수가 3, 24, 96, 192인 경우 3으로 나누어 1, 8, 32, 64로 표현 가능
      • 계산한 계수 값이 0인 경우 : ϵ(=0+)\epsilon(=0^+)로 대체하여 array 완성 후 부호 비교
      • array 중 a번째 행이 모두 0이 된 경우
        • a+1행 계수로 보조방정식 구성
        • 이 식을 미분한 계수로 0이 된 행 대체
        • ex. s1s^1행이 0, s2s^2행이 3, 12인 경우
          • a1(s)=3s2+12s0a_1(s)=3s^2+12s^0
          • da1(s)ds=6s\frac{da_1(s)}{ds}=6s
          • 즉 0이 된 s1s^1행의 1열 계수는 6
        • a+1행부터 시작하는 보조 routh-array 추출
          • 보조 routh-array에서의 RHP = LHP, 남는 근은 허수축 위에 존재
        • routh-array에서 a+1행 위의 계수로 보조방정식 외 나머지 pole 위치 판단
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6. Hall Effect, Quasi Fermi Level

6. Hall Effect, Quasi Fermi Level

Hall Effect

  • 물질에 자기장과 그에 수직한 전압을 가해 주면 majority carrier와 캐리어 농도, mobility를 분석 가능
  • 자계 내에서 움직이는 전하는 F=qv×BF=qv\times B의 로렌츠 힘을 받음
  • 자계와 전압에 모두 수직한 방향으로 전위차 VHV_H 형성
    • n-type에서는 (-), p-type에서는 (+)전압 형성
    • 정공이 만약 VB 전자의 빈 자리라고 할 경우 p-type 반도체의 VHV_H 역시 전자에 의해 (-)전압이 형성된다.
    • 하지만 실제로는 (+)전압이 형성되므로 정공 역시 빈 자리가 아닌 실제 입자라는 것을 알 수 있다.

  • Hall 전압이 가해지면 전위차에 의한 induced electric field가 형성
  • 로렌츠 힘은 (-) > (+), 전계는 (+) > (-) 방향으로 형성
  • steady state에서 F=q[E+v×B]=0F=q[E+v\times B]=0
    • 홀 전압 VH=EHW=EYW=vXBZWV_H=E_HW=E_YW=v_XB_ZW

    • p-type : vX=JX/qp=IX/qpWdv_X=J_X/qp=I_X/qpWd

      • VH=IXBZ/qpdV_H=I_XB_Z/qpd
      • p=IXBZ/qdVHp=I_XB_Z/qdV_H
    • n-type : vX=JX/qn=IX/qnWdv_X=-J_X/qn=-I_X/qnWd

      • VH=IXBZ/qndV_H=-I_XB_Z/qnd
      • n=IXBZ/qdVHn=I_XB_Z/qd|V_H|
    • mobility μ=IXL/qpVXWd=IXL/qnVXWd\mu=I_XL/qpV_XWd=I_XL/qnV_XWd

  • Hall Coefficient RHR_H
    • RHn=1/qnR_{Hn}=-1/qn
    • RHp=1/qpR_{Hp}=1/qp

Quasi-Fermi Level

  • non-equilibrium 상태에서는 mass action law가 만족하지 않음 ( npni2np\not ={n_i^2} )
  • 그러므로 전자, 정공에 대한 quasi-fermi level을 각각 정의
    • n=n0+Δn=niexp[(FNEi)/kT]n=n_0+\Delta n=n_iexp[(F_N-E_i)/kT]
      • FN=Ei+kTln(n/ni)F_N=E_i+kTln(n/n_i)
    • p=p0+Δp=niexp[(EiFP)/kT]p=p_0+\Delta p=n_iexp[(E_i-F_P)/kT]
      • FP=EikTln(p/ni)F_P=E_i-kTln(p/n_i)
    • np=ni2exp[(FNFP)/kT]np=n_i^2exp[(F_N-F_P)/kT]
  • FN>FPF_N>F_P : Carrier excess ( np>ni2np>n_i^2 )
  • FN<FPF_N<F_P : Carrier deficit ( np<ni2np<n_i^2 )
  • FN=FP=EFF_N=F_P=E_F : equilibrium ( np=ni2np=n_i^2 )

  • Low level injection 하에서 페르미 레벨 대비 minority carrier의 quasi fermi level은 majority carrier보다 큰 차이를 보임
    • ex. n0=1015n_0=10^{15} , p0=105p_0=10^5 , ni=1010n_i=10^{10} , Δn=Δp=1011\Delta n=\Delta p=10^{11}
    • FN=Ei+kTln(n/ni)Ei+kTln(n0/ni)=Ei+kTln(105)F_N=E_i+kTln(n/n_i)\simeq E_i+kTln(n_0/n_i)=E_i+kTln(10^5)
    • FP=EikTln(p/ni)EikTln(Δp/ni)=EikTln(10)F_P=E_i-kTln(p/n_i)\simeq E_i-kTln(\Delta p/n_i)=E_i-kTln(10)
    • EF=Ei+kTln(n0/ni)=EikTln(p0/ni)=Ei+kTln(105)E_F=E_i+kTln(n_0/n_i)=E_i-kTln(p_0/n_i)=E_i+kTln(10^5)

  • 전류밀도 = diffusion + drift
    • JP=qpμpEqDppJ_P=qp\mu_pE-qD_p\nabla p

    • p=nikTe(EiEF)/kT(EiFP)=qpkTEpFPkT\nabla p=\frac{n_i}{kT}e^{(E_i-E_F)/kT}(\nabla E_i-\nabla F_P)=\frac{qp}{kT}E-\frac{p\nabla F_P}{kT}

      • Ei=qE\nabla E_i=qE
      • EiE_i, FPF_P는 상수가 아니므로 각각 미분
    • JP=qpE(μpqDPkT)+qpDpkTFP=μppFPJ_P=qpE(\mu_p-\frac{qD_P}{kT})+\frac{qpD_p}{kT}\nabla F_P=\mu_pp\nabla F_P

      • μp=qDpkT\mu_p=\frac{qD_p}{kT} (einstein relationship)
  • {JP=μppFp=μpp(FPEi)+μppEiJN=μnnFn=μnn(FNEi)+μnnEi\begin{cases} J_P=\mu_pp\nabla F_p=\mu_pp\nabla(F_P-E_i)+\mu_pp\nabla E_i\\ J_N=\mu_nn\nabla F_n=\mu_nn\nabla(F_N-E_i)+\mu_nn\nabla E_i \end{cases}
    • μpp(FPEi)\mu_pp\nabla(F_P-E_i) : Drift Current
    • μppEi\mu_pp\nabla E_i : Diffusion Current

Pulse Doping

  • 특정 위치에 대해서만 Donor 도핑 시
    • 도핑 중심 영역은 균일한 농도를 갖게 되므로 변화가 없음, 도핑 농도가 변화하는 지점에 대해서 drift + diffusion
      • 도핑된 위치를 중심으로 바깥으로 diffusion
      • 이온화된 Donor과 확산된 전자에 의한 전계 형성, 도핑 농도가 높은 쪽으로 전자 drift
    • 도핑 농도차가 생기는 지점을 경계로 안쪽은 +, 바깥쪽은 - 전하가 쌓여 equilibrium 상태
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5. Equation of State

5. Equation of State

Equations of state

  • 실제 반도체에서 carrier action(generation, recombination, diffusion, drift)은 동시에 발생
  • 그 결과 전자 및 정공 농도, 전위에 영향
  • Equations of state
    • 반도체의 상태를 완벽하게 설명하기 위한 방정식
    • carrier action의 효과를 모두 고려
    • n(x,y,z,t), p(x,y,z,t), V(x,y,z,t)n(x,y,z,t),\ p(x,y,z,t),\ V(x,y,z,t)로 표현

  • Continuity Equation의 도출 과정

    • 생성-결합을 제외한 보존 법칙 : J=ρt\nabla\cdot J=-\frac{\partial\rho}{\partial t}
      • 전자의 ρ=qn\rho=-qn
        J=qnt\nabla\cdot J=q\frac{\partial n}{\partial t}

      • 정공의 ρ=qp\rho=qp
        J=qpt\nabla\cdot J=q\frac{\partial p}{\partial t}

    • 생성-결합을 고려한 Continuity Equations
      • nt=ntdrift+ntdiff+ntthermalRG+ntother\frac{\partial n}{\partial t}=\frac{\partial n}{\partial t}|_{drift}+\frac{\partial n}{\partial t}|_{diff}+\frac{\partial n}{\partial t}|_{thermal R-G}+\frac{\partial n}{\partial t}|_{other}
        =1qJN+ntthermalRG+ntother=\frac{1}{q}\nabla\cdot J_N+\frac{\partial n}{\partial t}|_{thermal R-G}+\frac{\partial n}{\partial t}|_{other}

      • pt=ptdrift+ptdiff+ptthermalRG+ptother\frac{\partial p}{\partial t}=\frac{\partial p}{\partial t}|_{drift}+\frac{\partial p}{\partial t}|_{diff}+\frac{\partial p}{\partial t}|_{thermal R-G}+\frac{\partial p}{\partial t}|_{other}
        =1qJP+ptthermalRG+ptother=-\frac{1}{q}\nabla\cdot J_P+\frac{\partial p}{\partial t}|_{thermal R-G}+\frac{\partial p}{\partial t}|_{other}

  • 반도체의 상태 - 전자, 정공, 전위(Eq. of states) - 밴드 다이어그램은 서로 연관되어있는 상태

    • 에너지 밴드를 그릴 수 있다 = 반도체 상태를 알 수 있다 = 정공, 전자, 전위를 안다

  • Equation Set used in Semiconductor device
    • Conservation Law : 위치에 대한 비선형 2차 편미분방정식

      • 1qJN+ntthermalRG+ntother\frac{1}{q}\nabla\cdot J_N+\frac{\partial n}{\partial t}|_{thermal R-G}+\frac{\partial n}{\partial t}|_{other}

      • 1qJP+ptthermalRG+ptother-\frac{1}{q}\nabla\cdot J_P+\frac{\partial p}{\partial t}|_{thermal R-G}+\frac{\partial p}{\partial t}|_{other}

      • D=ρ\nabla\cdot D=\rho ( 2V=ρ/ϵ\nabla^2V=-\rho/\epsilon )

    • Constitutive Relations

      • ρ=q(ND++pNAn)\rho=q(N_D^++p-N_A^--n) : Charge Neutality Condition
      • D=ϵED=-\epsilon E
      • JN=qnμnE+pDNnJ_N=qn\mu_nE+pD_N\nabla n
      • JP=qpμpEqDppJ_P=qp\mu_pE-qD_p\nabla p
    • 매우 작은 반도체 구조에는 슈뢰딩거 방정식 역시 고려


Minority Carrier Diffusion Equation

  • 계산을 위한 가정

    • 1차원 분석

    • minority carrier에 의해 majority carrier가 구해짐

    • 전계는 매우 작음 (= Diffusion Equation)

    • uniform doping

      • 선형방정식 유도
      • uniform doping : n=n0(x,y,z)+Δn(t)n=n_0(x,y,z)+\Delta n(t)에서 n0n_0는 위치에 무관한 상수
    • low-level injection

      • nonequilibrium 상태에 의한 초과 캐리어는 majority 캐리어 농도보다 매우 작다.
      • Δn(t)<<n0\Delta n(t)<<n_0
    • 열에 의한 생성-재결합은 캐리어 농도 변화에 의해 간접적으로 발생

    • 추가적인 변화는 빛 에너지에 의해서만 발생

  • Minority Carrier Diffusion Equation

    • Δnpt=DN2Δnpx2Δnpτn+GL\frac{\partial\Delta n_p}{\partial t}=D_N\frac{\partial^2\Delta n_p}{\partial x^2}-\frac{\Delta n_p}{\tau_n}+G_L (p-type)

    • Δpnt=DP2Δpnx2Δpnτp+GL\frac{\partial\Delta p_n}{\partial t}=D_P\frac{\partial^2\Delta p_n}{\partial x^2}-\frac{\Delta p_n}{\tau_p}+G_L (n-type)

    • Steady State : Δnpt\frac{\partial\Delta n_p}{\partial t} ( Δpnt\frac{\partial\Delta p_n}{\partial t} ) =0=0

    • No Concentration Gradient (No Diffusion, Uniformly Generated) :
      DP2Δnpx2D_P\frac{\partial^2\Delta n_p}{\partial x^2} ( DP2Δpnx2D_P\frac{\partial^2\Delta p_n}{\partial x^2} ) =0=0

    • No Thermal R-G : Δnpτn\frac{\Delta n_p}{\tau_n} ( Δpnτp\frac{\Delta p_n}{\tau_p} ) =0=0

    • No Light : GL=0G_L=0


Solutions of Minority Carrier Diffusion Equation

  • 주어진 조건 파악 : 반도체 물질, 온도, 전자-정공 농도, lifetime, 외부 자극 등등
  • 초기 상태 정의 : Fully-ionized 상태에서의 전자, 정공 농도
  • 방정식 조건 분석 : Steady State, No Diffusion 등등
  • 방정식 풀이 계산
  • 계산한 해가 앞의 조건을 만족하는지 재확인

  • ex. room temperature, uniformly generated, n-type
    • minority carrier : DP2Δpnx2D_P\frac{\partial^2\Delta p_n}{\partial x^2} =0=0 이므로

    • Δpnt=Δpnτp+GL\frac{\partial\Delta p_n}{\partial t}=-\frac{\Delta p_n}{\tau_p}+G_L

    • initial condition : Δpn(t=0)=0\Delta p_n(t=0)=0

    • Δpn(t)=GLτp(1exp[t/τp])\therefore \Delta p_n(t)=G_L\tau_p(1-exp[-t/\tau_p])

  • 시간이 흐름에 따라 excess carrier는 0에서 Δp\Delta p를 향해 수렴
  • 재확인
    • GLτpG_L\tau_p의 단위는 1/cm31/cm^3, 정공 농도와 단위 동일
    • low-level injection validity 확인

  • ex 2. room temperature, surface generated, n-type, GL=0G_L=0
    • steady state : Δpnt=DP2Δpnx2Δpnτp=0\frac{\partial\Delta p_n}{\partial t}=D_P\frac{\partial^2\Delta p_n}{\partial x^2}-\frac{\Delta p_n}{\tau_p} = 0

    • General Solution : Δpn(x)=Aex/Dpτp+Bex/Dpτp\Delta p_n(x)=Ae^{-x/D_p\tau_p}+Be^{x/D_p\tau_p}

    • surface generation

      • Δpn(0)=ΔPn0\Delta p_n(0)=\Delta P_{n0} , Δpn()=0\Delta p_n(\infty)=0
      • 표면에서만 excess carrier 생성
    • Δpn(x)=ΔPn0exp[x/DPτp ]\therefore \Delta p_n(x)=\Delta P_{n0}exp[-x/\sqrt{D_P\tau_p}\ ]

    • DpτpLp\sqrt{D_p\tau_p}\equiv L_p : hole diffusion length

    • diffusion length

      • <x>=xΔpn(x)Δpn(x)<x>=\frac{\int x\Delta p_n(x)}{\int \Delta p_n(x)}는 x=0일 때 Δpn(x)\Delta p_n(x)의 접선으로 나타남
      • 기댓값 <x><x>는 거리의 평균값, 즉 Diffusion에 의해 평균적으로 캐리어가 이동하는 거리를 의미
      • 캐리어의 이동 거리는 전속밀도 DD와 lifetime τ\tau에 비례하게 됨

  • ex3. local carrier generation, n-type
    • 특정 지점에서 Electron-hole pair가 계속 생성

    • steady state : Δpnt=DP2Δpnx2Δpnτp+gδ(x)=0\frac{\partial\Delta p_n}{\partial t}=D_P\frac{\partial^2\Delta p_n}{\partial x^2}-\frac{\Delta p_n}{\tau_p} +g\delta(x)= 0

    • boundary condition : Δp(±)=0\Delta p(\pm\infty)=0

      • 생성 지점 좌우로 diffusion
    • Δp(x)={Aexp(x/LN) : x<0Aexp(x/LN) : x0\Delta p(x)=\begin{cases} Aexp(x/L_N)\ :\ x<0\\ Aexp(-x/L_N)\ :\ x\geq0 \end{cases}

    • 델타함수의 특성을 이용하여 해 계산 : 00^-~0+0^+ 적분

      • A=gLN/2DNA=gL_N/2D_N
      • Δp(x)={(gLN/2DN) exp(x/LN) : x<0(gLN/2DN) exp(x/LN) : x0\therefore\Delta p(x)=\begin{cases} (gL_N/2D_N)\ exp(x/L_N)\ :\ x<0\\ (gL_N/2D_N)\ exp(-x/L_N)\ :\ x\geq0 \end{cases}

  • ex4. Instant local carrier generation, n-type, drift & diffusion
    • ex3과 다르게 1회성 EHP 생성

    • Δpnt=DP2Δpnx2μpϵ0ΔpnxΔpnτp\frac{\partial\Delta p_n}{\partial t}=D_P\frac{\partial^2\Delta p_n}{\partial x^2}-\mu_p\epsilon_0\frac{\partial\Delta p_n}{\partial x}-\frac{\Delta p_n}{\tau_p}

    • diffusion에 의해 시간이 흐를수록 가우시안 형태의 분포가 폭이 넒어짐

      • Δp(x,t)=p(x,t)exp[t/τp]\Delta p(x,t)=p'(x,t)exp[-t/\tau_p]
    • boundary condition : Δp(±)=0\Delta p(\pm\infty)=0

    • 미분방정식에 위의 해 대입

      • Δpt=DP2px2μpϵ0px\frac{\Delta p'}{\partial t}=D_P\frac{\partial^2p'}{\partial x^2}-\mu_p\epsilon_0\frac{\partial p'}{\partial x}
      • p(x,t)=Δps4πDPtexp[(xμpϵ0t)24DPt](cm2)\therefore p'(x,t)=\frac{\Delta p_s}{\sqrt{4\pi D_Pt}}exp[-\frac{(x-\mu_p\epsilon_0t)^2}{4D_Pt}](cm^{-2})
      • Δps\Delta p_s : Electron hole pair 생성에 의한 excess carrier
    • pp'를 위 해에 대입

      • Δp(x,t)=Δps exp[t/τP]4πDPtexp[(xμpϵ0t)24DPt](cm2)\Delta p(x,t)=\frac{\Delta p_s\ exp[-t/\tau_P]}{\sqrt{4\pi D_Pt}}exp[-\frac{(x-\mu_p\epsilon_0t)^2}{4D_Pt}](cm^{-2})
      • et/τPe^{-t/\tau_P} : 재결합에 의한 excess carrier 농도 감소
      • 4πDPt\sqrt{4\pi D_Pt} : diffusion에 의한 peak 농도 감소
      • 4DPt4D_Pt : diffusion에 의한 분포 폭 증가
      • (xμpϵ0t)2(x-\mu_p\epsilon_0t)^2 : drift에 의한 shift
    • 재확인

      • Δps=0\Delta p_s=0
        • Electron-Hole pair 생성이 없음
        • Δp(x,t)\Delta p(x,t)=0
      • limiting case
        • τp=0\tau_p=0
          • excess carrier 생성 즉시 소멸
          • et/τP=0e^{-t/\tau_P}=0이 되므로 Δp(x,t)=0\Delta p(x,t)=0
        • DP=D_P=\infty or t=t=\infty
          • 생성된 excess carrier가 완전히 diffusion
          • Δp(x,t)=0\Delta p(x,t)=0
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Feedback

Feedback

  • H(s) : feed-forward gain
  • G(s) : Loop gain
  • Y(s)X(s)=H(s)1+G(s)H(s)\frac{Y(s)}{X(s)}=\frac{H(s)}{1+G(s)H(s)}
  • feedback으로 인해 Gain은 감소하지만 안정
  • 제한된 bandwith의 조절 가능
    • loop gain β\beta가 있을 때
    • gain은 1+βA(s)1+\beta A(s)만큼 감소
    • 대역폭은 1+βA(s)1+\beta A(s)만큼 증가
      • 대역폭 증가시 시정수 감소
      • 부족한 대역폭 = 긴 시정수 = 비정상 증폭

Stability, Frequency Comprehensation

  • 피드백 단점 : 불안정 위험 (특히 2-stage Opamp)
  • op-amp 회로의 주파수 응답
    • 가장 작은 pole : bandwidth 주파수
    • Gain Bandwidth : Gain 크기가 0이 되는 지점
  • Barkhausen's Criteria
    • βAv(jw)=1|\beta A_v(jw)|=1, βAv(jw)=180°\angle\beta A_v(jw)=-180\degree를 만족하는 주파수에서 회로가 발진
    • 진폭, 위상 Bode plot에서 Gain이 0인 주파수를 wkw_k, 위상이 180°-180\degree인 주파수를 w180w_{180}으로 정의
    • wk, w180w_k,\ w_{180}일 때의 gain 차이를 GM(Gain Margin)
    • wk, w180w_k,\ w_{180}일 때의 위상차를 PM(Phase Margin)
    • wk<w180w_k<w_{180}일 때 회로가 stable
  • loop gain β\beta의 감소
    • Gain 감소
    • 안정성 증가
  • Pole-splitting
    • feedback 회로에서 stable 상태를 유지하면서 PM = 60일 때가 최적의 상태
    • 2단 opamp의 경우 2단째에 C로 피드백을 형성하여 1, 2번째 pole 사이 간격을 넓힐 수 있음 (pole-splitting)
      • PM은 확보되지만 bandwidth는 나빠짐
  • RHP zero
    • 패드백 커패시터 CCC_C, 부하 커패시터 CLC_L, 내부 커패시터 CAC_A
    • 1CC<<1CA+1CL\frac{1}{C_C}<<\frac{1}{C_A}+\frac{1}{C_L}의 조건 만족시 s-plane 우반면에 zero 형성(RHP zero)
    • gain은 감소하고, 위상은 더 감소하는 worst case
    • feedback에 R(LHP zero)을 추가하여 RHP zero 보상
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1. Expected Value of R.V function

1. Expected Value of R.V function

  • N개 R.V. 함수에 대해서
    • E[X]=xfX(x)dxE[X]=\int xf_X(x)dx
    • R.V. Z=X+Y일 때 E[Z]=(X+Y)fX,Y(x,y)dxdy=E[X]+E[Y]E[Z]=\int^\infty_{-\infty}\int^\infty_{-\infty}(X+Y)f_{X,Y}(x,y)dxdy=E[X]+E[Y]
    • 함수 g(x,y)에 대해 g=EX,Y[g(x,y)]=g(x,y)fX,Y(x,y)dxdy\overline{g}=E_{X,Y}[g(x,y)]=\int^\infty_{-\infty}\int^\infty_{-\infty}g(x,y)f_{X,Y}(x,y)dxdy
    • E[iαiXi]=iαiE[Xi]E[\sum_i\alpha_iX_i]=\sum_i\alpha_iE[X_i]

결합 Moment

  • mnkEX,Y[XnYk]=xnykfX,Y(x,y)dxdym_{nk}\equiv E_{X,Y}[X^nY^k]=\int^\infty_{-\infty}\int^\infty_{-\infty}x^ny^kf_{X,Y}(x,y)dxdy
  • mn0=E[Xn]m_{n0}=E[X^n], m0k=E[Yk]m_{0k}=E[Y^k]
  • n+k = moment의 차수
  • Correlation(상관관계) : RXY=m11=EX,Y[XY]R_{XY}=m_{11}=E_{X,Y}[XY]
    • E[XY]=E[X]E[Y]E[XY]=E[X]E[Y]면 uncorrelated
    • 독립시행이면 uncorrelated
    • correlated면 독립이 아님
    • 하지만 uncorrelated라고 해서 독립인 것은 아님
    • RXY=0R_{XY}=0이면 X와 Y는 직교(orthogonal)한다고 표현

결합 Central Moment

  • μnk=EX,Y[(XX)n(YY)k]\mu_{nk}=E_{X,Y}[(X-\overline{X})^n(Y-\overline{Y})^k]
  • 랜덤변수의 분산 : μ20=σX2\mu_{20}=\sigma_X^2, μ02=σY@\mu_{02}=\sigma_Y^@
  • Covariance : CXY=CYX=μ11C_{XY}=C_{YX}=\mu_{11}
    =E[(XX)(YY)]=E[XY]XY=RXYXY=E[(X-\overline{X})(Y-\overline{Y})]=E[XY]-\overline{XY}=R_{XY}-\overline{XY}
    • CXY=0C_{XY}=0이면 uncorrelated
    • CXY=E[X]E[Y]C_{XY}=-E[X]E[Y]면 orthogonal
    • 상관계수(Correlation Coefficient) : ρ=μ11μ20μ02=CXYσXσY=E[xμxσxyμyσy]\rho=\frac{\mu_{11}}{\sqrt{\mu_{20}\mu_{02}{}}}=\frac{C_{XY}}{\sigma_X\sigma_Y}=E[\frac{x-\mu_x}{\sigma_x}\frac{y-\mu_y}{\sigma_y}]
      • 상관계수의 크기는 항상 1보다 작음
  • 증명 : Cauchy-Schwarz inequality

    f(x)=xμxσxfX,Y(x,y)f(x)=\frac{x-\mu_x}{\sigma_x}f_{X,Y}(x,y), g(y)=yμyσyfX,Y(x,y)g(y)=\frac{y-\mu_y}{\sigma_y}f_{X,Y}(x,y)
    가우스 분포이므로 우변은 1이 됨. 1ρ1\therefore -1\leq|\rho|\leq1

2. Joint Characteristic Function

  • ΦX,Y(w1,w2)=E[ exp[jw1X+jw2Y] ]\Phi_{X,Y}(w_1, w_2)=E[\ exp[jw_1X+jw_2Y]\ ]
    =fX,Y(x,y)exp[jw1X+jw2Y]dxdy=\int^\infty_{-\infty}\int^\infty_{-\infty}f_{X,Y}(x,y)exp[jw_1X+jw_2Y]dxdy
  • inverse Ch. : fX,Y(x,y)=1(2π)2ΦX,Y(w1,w2)exp[(jw1X+jw2Y)]dw1dw2f_{X,Y}(x,y)=\frac{1}{(2\pi)^2}\int^\infty_{-\infty}\int^\infty_{-\infty}\Phi_{X,Y}(w_1,w_2)exp[-(jw_1X+jw_2Y)]dw_1dw_2
  • marginality : ΦX(w)=ΦX,Y(w,0)\Phi_X(w)=\Phi_{X,Y}(w,0)
  • Joint Moment : mn,k=(j)n+kn+kΦX,Y(w1,w2)w1nw2kw1=w2=0m_{n,k}=(-j)^{n+k}\frac{\partial^{n+k}\Phi_{X,Y}(w_1,w_2)}{\partial w_1^n\partial w_2^k}|_{w1=w2=0}

3. Joint Gaussian Random Variable

  • fX(x)=1(2π)n(det)exp[12(Xμ)T1(Xμ)]f_{\it{X}}(x)=\large{\frac{1}{\sqrt{(2\pi)^n(det\sum)}}exp[-\frac{1}{2}(X-\mu)^{T}\sum^{-1}(X-\mu)]}
  • 2차원 Gaussian R.V.에 대해
    • =[σx2ρσxσyρσxσyσy2]\sum=\begin{bmatrix} \sigma_x^2&\rho\sigma_x\sigma_y\\ \rho\sigma_x\sigma_y&\sigma_y^2 \end{bmatrix}
    • 1=11ρ2[1σx2ρσxσyρσxσy1σy2]\sum^{-1}=\frac{1}{1-\rho^2}\begin{bmatrix} \frac{1}{\sigma_x^2}&-\frac{\rho}{\sigma_x\sigma_y}\\ -\frac{\rho}{\sigma_x\sigma_y}&\frac{1}{\sigma_y^2} \end{bmatrix}
    • det=σX2σY2(1ρ2)det\sum=\sigma_X^2\sigma_Y^2(1-\rho^2)
    • fX,Y(x,y)=12πσXσY1ρ2exp[12(1ρ2)[(xμxσX)22ρ(xμxσX)(yμyσY)+(yμyσY)2]]f_{X,Y}(x,y)=\frac{1}{2\pi\sigma_X\sigma_Y\sqrt{1-\rho^2}}exp[-\frac{1}{2(1-\rho^2)}[(\frac{x-\mu_x}{\sigma_X})^2-2\rho(\frac{x-\mu_x}{\sigma_X})(\frac{y-\mu_y}{\sigma_Y})+(\frac{y-\mu_y}{\sigma_Y})^2]]

  • property : 2차원 joint gaussian R.V fX,Y(x,y)f_{X,Y}(x,y)
    • XX~N(μx,σX2)N(\mu_x,\sigma_X^2)
    • E[(Xμx)(Yμy)]=ρσXσYE[(X-\mu_x)(Y-\mu_y)]=\rho\sigma_X\sigma Y(Covariance)
    • E[XY]=ρσXσY+μxμyE[XY]=\rho\sigma_X\sigma Y+\mu_x\mu_y
  • X,Y가 joint Gaussian이고 ρ=0\rho=0이면 uncorrelated
  • 임의의 uncorrelated한 gaussian R.V.는 독립
  • 가우시안의 선형 transform, marginal, conditional distribution은 모두 gaussian

  • Linear Transform(Coordination Rotation)
    • 랜덤변수 X, Y를 uncorrelated한 랜덤변수로 선형 변환(각도 θ\theta로 회전)
    • [Y1Y2]\begin{bmatrix} Y_1\\ Y_2 \end{bmatrix}=[cosθsinθsinθcosθ]=\begin{bmatrix} cos\theta&sin\theta\\ sin\theta&cos\theta \end{bmatrix} [XY]\begin{bmatrix} X\\ Y \end{bmatrix}
    • CY1Y2=(σY2sigmaX2)sin2θ2+CXYcos2θC_{Y_1Y_2}=(\sigma_Y^2-sigma_X^2)\frac{sin2\theta}{2}+C_{XY}cos2\theta
      • 위 식이 0일 때 uncorrelated
      • θ=12tan1[2ρσXσYσX2σY2]\theta=\frac{1}{2}tan^{-1}[\frac{2\rho\sigma_X\sigma_ Y}{\sigma_X^2-\sigma_Y^2}]

4. Transformation of Multiple Random Variables

  • N차원 랜덤변수 T : Y=g(X1,X2,....XN)T\ :\ Y=g(X_1,X_2,....X_N)이 있다고 할 때
    • FY(y)=P(g()y)F_Y(y)=P(g()\leq y)
      ...fX1,...,XN(x1,...,xN)dx1...dxN\int...\int f_{X_1,...,X_N}(x_1,...,x_N)dx_1...dx_N
    • fY(y)=dFY(y)dyf_Y(y)=\frac{dF_Y(y)}{dy}
      =fX(x1,...xN)J=f_X(x_1,...x_N)|J|
      • x1=T1(y),...,xN=TN1(y)x_1=T^{-1}(y),...,x_N=T_N^{-1}(y)
      • y=[y1,...yN]Ty=[y_1,...y_N]^T
      • J=[T11y1...T11yN.........TN1y1...TN1yN]J=\begin{bmatrix} \frac{\partial T_1^{-1}}{\partial y_1}&...&\frac{\partial T_1^{-1}}{\partial y_N}\\ ...&...&...\\ \frac{\partial T_N^{-1}}{\partial y_1}&...&\frac{\partial T_N^{-1}}{\partial y_N} \end{bmatrix}
      • J : Jacobian determinant
        • 실수값 p에대해 J가 0이 아니면 함수 f는 역함수가 존재
        • p에서 J의 절대값은 그 점에서의 수축/확산에 대한 정보를 제공

  • ex.{Y1=aX1+bX2Y2=cX1+dX2\begin{cases} Y_1=aX_1+bX_2\\ Y_2=cX_1+dX_2 \end{cases} : [Y1Y2]\begin{bmatrix} Y_1\\ Y_2 \end{bmatrix} =[abcd]=\begin{bmatrix} a&b\\ c&d \end{bmatrix} [X1X2]\begin{bmatrix} X_1\\ X_2 \end{bmatrix}
    • fY1,Y2(y1,y2)=fX1,X2(x1,x2)(x1,x2)(y1,y2)f_{Y_1,Y_2}(y_1,y_2)=f_{X_1,X_2}(x_1,x_2)|\frac{\partial(x_1,x_2)}{\partial(y_1,y_2)}|
      =fX1,X2(x1,x2) / (y1,y2)(x1,x2)=fX1,X2(x1,x2) / [abcd]=f_{X_1,X_2}(x_1,x_2)\ /\ |\frac{\partial(y_1,y_2)}{\partial(x_1,x_2)}|=f_{X_1,X_2}(x_1,x_2)\ /\ |\begin{bmatrix} a&b\\ c&d \end{bmatrix}|
      =1adbcfX1,X2(dy1by2adbc,cy1+ay2adbc)=\frac{1}{|ad-bc|}f_{X_1,X_2}(\frac{dy_1-by_2}{ad-bc},\frac{-cy_1+ay_2}{ad-bc})

5. Estimation

Estimation of Mean

  • 랜덤한 N개 값에서의 sample mean :
    • xN^=1Nn=1Nxn\hat{\overline{x_N}}=\frac{1}{N}\sum^N_{n=1}x_n
  • N개 random variable에서 추정한 sample mean :
    • XN^=1Nn=1NXn\hat{\overline{X_N}}=\frac{1}{N}\sum^N_{n=1}X_n
  • 좋은 Estimate의 조건
    • unbiased : 예측값의 평균이 실제 평균으로 수렴할 것
      • E[XN^]=E[1NXn]=1NE[Xn]=XE[\hat{\overline{X_N}}]=E[\frac{1}{N}\sum X_n]=\frac{1}{N}\sum E[X_n]=\overline{X}
    • 예측값의 분산이 최소값이 될 것
      • E[(XN^X)2]=E[XN^2]X2=σX2NE[(\hat{\overline{X_N}}-\overline{X})^2]=E[\hat{\overline{X_N}}^2]-\overline{X}^2=\frac{\sigma_X^2}{N}
      • sample 개수 N이 충분히 커지면 sample 분산은 0으로 수렴
  • Chebychev's Inequality
    • P(XN^X<ϵ)1σXN^2ϵ2=1σX2Nϵ2P(|\hat{\overline{X_N}}-\overline{X}|<\epsilon)\geq1-\frac{\sigma_{\hat{\overline{X_N}}}^2}{\epsilon^2}=1-\frac{\sigma_X^2}{N\epsilon^2}
    • N이 충분히 큰 상태에서 sample mean과 X의 실제 mean이 같을 확률은 1로 수렴

Estimation of Variance

  • sample variance VN1N(XnXN^)2V_N\equiv\frac{1}{N}\sum(X_n-\hat{\overline{X_N}})^2으로 sample variance를 가정
  • E[VN]=N1NσXE[V_N]=\frac{N-1}{N}\sigma_X이므로 not unbiased
    • 양변에 1N1\frac{1}{N-1}을 곱해 unbiased인 분산의 예측값을 계산 가능
    • σX^2=1N1(XnXN^)2\hat{\sigma_X}^2=\frac{1}{N-1}\sum(X_n-\hat{\overline{X_N}})^2

Law of large numbers

  • weak law : 충분히 큰 N에 대해서 sample mean은 실제 평균과 동일
  • strong law : 충분히 큰 N에 대해서 sample mean이 실제 평균과 동일할 확률이 1로 수렴
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Basic Operational Amplifier

Basic Operational Amplifier

  • 유한한 gain : 40 ~ 100 dB
  • (+) / (-) 단 입력의 차이에 비례하여 선형적으로 동작하는 전압 범위 존재
  • 입력 양단을 short시 존재하는 offset 전압 존재 : 5 ~ 10mV
  • CMRR(Common-Mode Rejection Ratio)
    • Differential Gain AD=Vout/Vin_diffA_D= V_{out}/V_{in\_diff}
    • Common Gain AC=Vout/Vin_commonA_C=V_{out}/V_{in\_common}
    • CMRR=20log(AD/AC)CMRR=20log(A_D/A_C)
  • Frequency Response : 차단주파수 wc=110Mhzw_c=1\sim10Mhz
  • Slew Rate
    • 입력이 크게 변할 때 출력의 변화 rate
    • 동작 범위를 순간 벗어났다가 다시 돌아오는 시간
    • 120 V/μs1\sim20\ V/\mu s
  • Output Resistor : 버퍼 존재시 0.15kΩ0.1\sim5k\Omega / 버퍼 없을 시 1MΩ\sim1M\Omega
  • Flicker noise
    • noisy한 트랜지스터에서 발생 ( MOS에 특히 유효 )
    • 1050μV(RMS)@MOS10\sim50\mu V(RMS)@MOS
    • 35μV(RMS)@BJT3\sim5\mu V(RMS)@BJT
  • Dynamic Range : Opamp의 최대 입력 range
  • PSRR(Power Supply Rejection Ratio)
    • opamp 소자의 공급 전압이 출력전압에 미치는 영향
    • PSRR=20log(Aout/Apow)PSRR=20log(A_{out}/A_{pow}) : 통상 60 ~ 80dB
  • DC power dissipation : 소자 공급전압에 대한 전력손실

Folded Cascode

  • Common Source(위) - Common Gate(아래) 사이 노드를 접은 형태
    • 입력 NMOS > PMOS 쌍으로 변경
  • 장점 : Voltage Swing 증가
  • 단점 :
    • 출력저항 감소 > Gain 감소, 전류소모 증가
    • 분기점 증가 = 캐패시턴스 증가 > 응답속도 감소

2단 Op-amp

  • high gain과 high swing은 서로 trade-off
  • 고이득 + 고스윙 opamp를 조합하여 trade-off관계 보완
  • 공급전압이 제한되어 있는 상황에서 큰 gain이 요구되는 경우 효과적
  • 단점 :
    • feedback 구성 시 불안정 위험
    • 대부분 주파수 보상 필요, 보상시 opamp 대비 보상을 위한 C소자 크기가 비대

  • 고이득 증폭기 모델
    • PMOS + NMOS로 Cascoding시 각각 전류원 + 전류원에 병렬인 저항으로 연결된 것과 같은 상태
    • 각 MOS 전류가 달라지면 그로 인한 전류차가 MOS 저항으로 흘러 출력전압이 불안정 ---ㅌㅎ `

Common Mode FeedBack(CMFB)

  • 고이득 증폭기의 단점 완화
  • 불안정에 의한 전압 차이를 보상
  • CMFB 동작
    • Common Mode 전압 감지
      • 출력단 사이에 저항을 연결
        • Gain 감소를 방지하기 위해 출력저항보다 충분히 큰 저항 선정
      • Source Follower를 버퍼 역할로 하여 감지
        • DC level shift로 인해 저항 부담 경감
        • 단점 : Source Follower 회로 동작 조건으로 인해 출력 headroom이 손해를 봄
    • 감지한 출력전압을 지정한 VREFV_{REF}와 비교
      • 비교회로는 보통 5TR opamp(최대한 단순화) 이용
      • 비교기 gain이 과도하면 발진 위험
    • 오차 전압을 반환

Slew Rate

  • opamp : 차동 전압(small-signal)에 기반한 출력
  • 전압차이가 매우 커질 경우
    • 전압이 증가한 쪽은 급격한 전압 변화
    • 반대편은 C소자 특성에 의해 전압 변화가 상대적으로 느림
    • 전압이 증가한 쪽에 거의 모든 전류 할당
    • 반대편 트랜지스터는 사실상 OFF된 상태, C소자가 충전
    • 이 때 전압의 변화(기울기) 를 slew-rate라고 정의
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Pole
  • Cascode : gain의 증폭
  • Frequency Responce : 속도(응답특성) 확인

Pole

  • RC회로의 pole
    • gain AV=1/RCs+1/RCA_V=\frac{1/RC}{s+1/RC}
      • 주파수의 함수로 표현 : AV(f)=11+jwRCA_V(f)=\frac{1}{1+jwRC}
      • 차단주파수 fC=1/2πRCf_C=1/2\pi RC
        • AV(f)=11+jf/fCA_V(f)=\frac{1}{1+jf/f_C}
  • Multiple Poles( non-interacting poles )
    • 커패시터 영향이 서로 분리되어있는 경우
    • 커패시터 개수만큼의 Pole 형성
    • Vx=R1R2sR1R2C1+R1+R2(VinR1+VoutR2)V_x = \frac{R_1 R_2}{sR_1 R_2 C_1 + R_1 + R_2}\left(\frac{V_{in}}{R_1}+\frac{V_{out}}{R_2}\right)
    • Vout=VxsR2C2+1V_{out} = \frac{V_x}{sR_2 C_2 + 1}

      출처 : electronics.stackexchange


Miller Effect

  • Gain을 갖는 두 노드 사이에 임피던스 Z가 있을 때,
    임피던스 중간을 나누어 Ground된 두 등가회로로 해석 가능

  • ZX=Z1AvZ_X=\frac{Z}{1-A_v} ( Av:XY사이의GainA_v : X-Y 사이의 Gain )

  • ZY=Z1Av1Z_Y=\frac{Z}{1-A_v^{-1}}

  • ex) op-amp & Capacitor

    • 커패시터 임피던스를 분리
    • C1=CF(1Av)C_1=C_F(1-A_v)
      • 입력단에서 보는 C값은 opamp에 연결한 CFC_F보다 증폭되어 보이는 효과
      • AV=11+sRCA_V=\frac{1}{1+sRC}에서 C의 증가로 인해 pole값 감소
    • C2=CF(1Av1)CFC_2=C_F(1-A_v^{-1})\simeq C_F

MOS amplifier

  • Common Gate의 Pole 형성
    • Drain, Source단에 형성된 커패시터가 각각 Pole을 형성
    • 두 pole 중 작은 값이 소자의 속도 결정
  • Common Source의 pole 형성
    • 입력~출력 사이에도 커패시턴스 CGDC_{GD} 형성
    • Miller's Effect를 이용하여 CGDC_{GD}를 분리하여 해석
      • 입력측에서는 CGDin=(1+gmRD)CGDC_{GDin}=(1+g_mR_D)C_{GD}
      • 출력측에서 CGDoutCGDC_{GDout}\simeq C_{GD}
  • Current Mirror
    • sigle-end Current Mirror에서 전류를 만드는 쪽은 커패시턴스가 증가하는 효과에 의해 차단주파수가 낮아질 수 있음(Mirror Pole)

Frequency Response

  • RC 회로의 Pole p=1/RCp=1/RC
    • 응답함수 H(w)=11+jw/wCH(w)=\frac{1}{1+jw/w_C}
      (Phasor)=11+(w/wC)2tan1wwC=\frac{1}{\sqrt{1+(w/w_C)^2}}\angle-tan^{-1}\frac{w}{w_C}
  • pole값이 s-plane의 좌반면에 있을때 시스템이 stable
    • Bode plot 작성시 Pole 주파수 wcw_c에서 θ=45°\theta=45\degree
    • pole당 위상이 90°-90\degree shift
    • gain은 decade(10배)당 -20dB
  • RC회로의 zero z=0z=0
    • zero당 90°90\degree shift
    • gain은 decade당 +20dB
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